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板式測厚儀測量數據不準的原因

 更新時(shí)間:2020-03-19 點(diǎn)擊量:597
   板式測厚儀適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
  板式測厚儀測量數據不準的原因:
  每一種測厚儀器都有一個(gè)臨界厚度,大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響;對試件表面形狀的陡變敏感,因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的;試件的曲率對測量有影響,隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大,因此,在彎曲試件的表面上測量也是不可靠的;
  基體金屬和涂層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大,影響增大,粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差,每次測量時(shí),在不同的位置上應增加測量的次數,以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙,還必須在未涂的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn),或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解去除涂層后,再校對儀器的零點(diǎn);
  周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng),會(huì )嚴重干擾磁性測厚工作;
  探頭會(huì )使軟涂層試件變形,因此在這些試件上測不出可靠的數據;
  妨礙探頭與涂層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì),必須清除,在測量中,要保持壓力恒定,探頭與試件表面保持垂直,才能達到精確的測量。
  磁性法測量厚度受基體金屬性變化的影響(在實(shí)際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準;
  基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成份及熱處理方法有關(guān),應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。
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